PCB線(xian)路板(ban)材料(liao)的(de)(de)(de)介(jie)電常(chang)數（Dk）或相對介(jie)電常(chang)數并(bing)不(bu)是(shi)(shi)(shi)恒定的(de)(de)(de)常(chang)數 – 盡管從它的(de)(de)(de)命(ming)名上(shang)像是(shi)(shi)(shi)一個(ge)常(chang)數。例如，材料(liao)的(de)(de)(de)Dk會隨頻率(lv)的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)而變(bian)化(hua)。同(tong)樣，如果(guo)在同(tong)一塊材料(liao)上(shang)使用(yong)(yong)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)Dk測試方(fang)法(fa)，也可(ke)能(neng)會測量得出不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)Dk值，即使這些測試方(fang)法(fa)都(dou)是(shi)(shi)(shi)準(zhun)確無(wu)誤的(de)(de)(de)。隨著線(xian)路板(ban)材料(liao)越來越多地應用(yong)(yong)于毫米波(bo)頻率(lv)，如5G以及先進輔助駕駛(shi)系統等領域，理解Dk隨頻率(lv)的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)以及哪(na)種Dk測試方(fang)法(fa)是(shi)(shi)(shi)“合適”的(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)非常(chang)重要的(de)(de)(de)。
盡管諸(zhu)如IEEE和IPC等組織都有(you)(you)專門的委員會(hui)來探討這(zhe)一(yi)問題(ti)，但目前還沒有(you)(you)一(yi)個標準的行業測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法來測(ce)(ce)(ce)量(liang)毫(hao)米(mi)波頻率下(xia)線路板材料的Dk。這(zhe)并不(bu)是(shi)因為缺乏測(ce)(ce)(ce)量(liang)方(fang)法，事(shi)實上，Chen et al.1等人發表(biao)的一(yi)篇參考論(lun)文中描述了80多(duo)種測(ce)(ce)(ce)試Dk的方(fang)法。但是(shi)，沒有(you)(you)哪一(yi)種方(fang)法是(shi)理想的，每種方(fang)法都具有(you)(you)它的優點和不(bu)足，尤其是(shi)在30到300 GHz的頻率范圍內(nei)。
電路測試vs原材料測試
通(tong)常(chang)(chang)有兩(liang)大類的(de)測(ce)試方(fang)(fang)法用(yong)于(yu)確(que)(que)定線路(lu)板(ban)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料的(de)Dk或(huo)Df（損耗角正切或(huo)tanδ）：即原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料測(ce)量(liang)(liang)(liang)，或(huo)者在(zai)由(you)(you)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料制成的(de)電(dian)路(lu)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)(liang)(liang)。基于(yu)原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料的(de)測(ce)試依賴于(yu)高質量(liang)(liang)(liang)可靠的(de)測(ce)試夾(jia)具和設備(bei)，直接測(ce)試原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料可以獲得Dk和Df值(zhi)。基于(yu)電(dian)路(lu)的(de)測(ce)試通(tong)常(chang)(chang)是使(shi)用(yong)常(chang)(chang)見電(dian)路(lu)并從電(dian)路(lu)性(xing)能中提取材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料參(can)數(shu)，例(li)如測(ce)量(liang)(liang)(liang)諧振器的(de)中心頻率或(huo)頻率響應(ying)。原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)(cai)(cai)(cai)料的(de)測(ce)試方(fang)(fang)法通(tong)常(chang)(chang)會引入了測(ce)試夾(jia)具或(huo)測(ce)試裝(zhuang)置(zhi)相關的(de)不確(que)(que)定性(xing)，而電(dian)路(lu)測(ce)試方(fang)(fang)法包(bao)含來(lai)自測(ce)試電(dian)路(lu)設計和加工技術的(de)不確(que)(que)定性(xing)。由(you)(you)于(yu)這兩(liang)種方(fang)(fang)法不同，測(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果和準確(que)(que)度水平通(tong)常(chang)(chang)不一致。
例如(ru)，由IPC定義的(de)X波段夾(jia)緊(jin)式帶(dai)狀(zhuang)線(xian)(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)，是一(yi)(yi)種原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)，其結果就無法(fa)(fa)與(yu)相(xiang)同材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)電(dian)路測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)Dk結果一(yi)(yi)致。夾(jia)緊(jin)式帶(dai)狀(zhuang)線(xian)(xian)原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)料(liao)(liao)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)(fa)是將兩片待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)材(cai)(cai)料(liao)(liao)（MUT）夾(jia)在(zai)一(yi)(yi)個特(te)殊的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)夾(jia)具(ju)中來構建一(yi)(yi)個帶(dai)狀(zhuang)線(xian)(xian)諧(xie)振器(qi)。在(zai)待(dai)測(ce)(ce)(ce)(ce)材(cai)(cai)料(liao)(liao)（MUT）和測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)夾(jia)具(ju)中的(de)薄(bo)諧(xie)振器(qi)電(dian)路之間會有(you)空氣，空氣的(de)存在(zai)會降低測(ce)(ce)(ce)(ce)量的(de)Dk。如(ru)果在(zai)相(xiang)同的(de)線(xian)(xian)路板材(cai)(cai)料(liao)(liao)上進(jin)行電(dian)路測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，與(yu)沒有(you)夾(jia)帶(dai)空氣，測(ce)(ce)(ce)(ce)得(de)的(de)Dk是不同的(de)。對于(yu)通過(guo)原(yuan)(yuan)材(cai)(cai)料(liao)(liao)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)確定的(de)Dk公差為±0.050的(de)高頻線(xian)(xian)路板材(cai)(cai)料(liao)(liao)，電(dian)路測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)將得(de)到(dao)約±0.075的(de)公差。
線路板材(cai)料是各(ge)向(xiang)異性的(de)(de)(de)(de)(de)，通常(chang)在三(san)個材(cai)料軸(zhou)(zhou)上(shang)具有不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)Dk值。Dk值通常(chang)在x軸(zhou)(zhou)和(he)(he)y軸(zhou)(zhou)間差(cha)別很小，因此(ci)對于(yu)大多數高頻材(cai)料，Dk各(ge)向(xiang)異性通常(chang)指在z軸(zhou)(zhou)和(he)(he)x-y平面(mian)之間進(jin)行的(de)(de)(de)(de)(de)Dk比較(jiao)。由于(yu)材(cai)料的(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)向(xiang)異性，對于(yu)相同的(de)(de)(de)(de)(de)待測(ce)材(cai)料（MUT），測(ce)量得到的(de)(de)(de)(de)(de)z軸(zhou)(zhou)的(de)(de)(de)(de)(de)Dk與x-y平面(mian)上(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)Dk是不(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)，盡管測(ce)試(shi)方法和(he)(he)測(ce)試(shi)得到的(de)(de)(de)(de)(de)Dk的(de)(de)(de)(de)(de)值都是“正確的(de)(de)(de)(de)(de)”。
用(yong)于(yu)電路測試的(de)電路類(lei)型(xing)也會影響被(bei)測Dk的(de)值。通(tong)常，使用(yong)兩種類(lei)型(xing)的(de)測試電路：諧振結(jie)構和傳(chuan)(chuan)輸/反射(she)結(jie)構。諧振結(jie)構通(tong)常提供窄帶(dai)結(jie)果，而傳(chuan)(chuan)輸/反射(she)測試通(tong)常是寬帶(dai)結(jie)果。使用(yong)諧振結(jie)構的(de)方法通(tong)常更(geng)準確(que)。